チップ間インターフェースビットエラーレート測定器 一式
国立大学法人東京大学 東京大学本部契約課
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2026年11月11日に取得
出典：国立大学法人東京大学 官公需情報ポータルサイト（検索API）
日程
- 公告日7.1（水）
- 開札日8.20（木）14:30
参加の条件
- 国の競争参加資格(全省庁統一資格)において令和8年度に関東・甲信越地域の「物品の製造又は物品の販売」のA、B又はC等級に格付けされている者であること。
- 製造物品に関する研究体制及び迅速なアフターサービス・メンテナンスの体制が整備されていることを証明した者であること。
案件の内容
| 概要 | A 走査型電子顕微鏡(FE-SEM)EBSDシステム 一式B 小型二軸コニカル押出・ロール成形一体型装置 一式Ⅽ 原子層堆積システム 一式Ⅾ チップ間インターフェースビットエラーレート測定器 一式 |
|---|---|
| 場所 | ABⅮ 東京大学大学院工学系研究科Ⅽ 東京大学生産技術研究所 |
| 期間 | A 令和9年3月31日B 令和8年10月20日Ⅽ 令和9年3月19日Ⅾ 令和9年2月26日 |